简介：

       膜厚测试仪根据产品镀层中的不同金属元素被X-荧光射线照射后会激发出电子荧光信号，而这些电子都有自己的特定讯号强弱，透过这些特性便可识别出不同金属元素。当仪器接收器收到讯号后会经过运算然后描绘出一个光谱图。由于不同的元素会产生不同的光谱图，它们也有特定的频道，这些数据再经过计算机软件WinFTM XDV-u运算后便可以计算出金属镀层厚度或成份数据。

用途：金属涂镀层厚度测试